摘要:針對印染生產中由于待印織物遇濕變形引起的對花不準的問題.提出了基于圖像識別的多套色印花定位技術,設計了基于圖像識別技術的二套色圓網印花系統并進行了相關實驗實驗結果表明用基于圖像識別技術的多套色印花定位系統進行多套色印花定位能夠較好地解決由于待印織物遇濕變形所引起的對花不準問題:同時該系統能夠達到較高的多套色印花對花定位精度。
關鍵詞:多套色印花;圖像識別;對花定位;精度
印染生產中對花不準是一種重要的印染疵病.嚴重影響印染成品質量對花不準的表現形式是印制二套及多套色花型時.有一種或幾種色澤沒有正確地印到相應的花紋位置上.發生錯位或重疊對花不準產生的原因主要有:①圓網制版工藝設計考慮不周;②圓網圓周大小不一致;③貼布漿粘貼能力差,印花半制品與橡膠導帶之間發生相對移動:④印花橡膠導帶松弛未及時調整,致使其滑移、跑偏:⑤半制品布幅在生產過程中遇濕產生回縮和擴伸。其中前4個問題可以通過改善工藝、提高操作水平和提高設備精度的方法解決:而對于第5個問題國內印染界一般都采用在制版時通過對圖案的縮放加以修正,但由于織物品種、染料類型和花色的復雜性,如果解決不當,常常又會引發①中所述問題所以目前國內外印染界對于⑤引起的對花不準的問題沒有一種有效的解決方法近年國外印染企業研發了印花導帶定位自動測定系統.通過對每個印花位置上橡膠印花毯速度的測定.對各印花圓網的轉速進行校正但由于印花過程中待印織物的遇濕變形量在織物的各段差異較大,且織物與其附著的印花毯之間也存在相對位移.所以上述方法并不能真正解決由于待印織物遇濕變形引起的對花不準問題。
本研究利用織物圖像規則分布的紋理特征.通過對待印織物表面紋理圖形直方波圖形波峰計數方法實現套色印花過程中的高精度對花定位實驗證明基于圖像識別技術的多套色印花定位系統能夠較好地解決由于織物遇濕變形所引起的對花不準問題。
1工作原理
從待印染織物的形成過程和結構來看.織物是由經紗和緯紗相互交織而形成.由于紡織機械能嚴格控制緯經紗線編織過程.織物其緯紗和經紗按一定密度、一定交織規則均勻排列.產生的織物結構圖像自然規則穩定.如圖1所示均勻的緯經紗線相互交織圍成明亮的矩形框:中心呈類圓形暗淡區域是編織孔.孔域直徑和灰度受編織紗線密度影響存在差異緯經紗線交 織環繞構成織物最基本的結構單元。
一般平面圖像內散布的識別對象存在形狀、軸向、距離及尺寸差異,要正確識別需提取特征參數并歸一化處理為特征矩陣.經線性幾何變換將識別特征映射至標準模型根據織物基本結構單元穩定.經緯紗線呈直線分布且灰度變化具有單一周期的特征。對于大小為mXn的織物結構圖像.緯紗方向的灰度值分布為fx(m),經紗方向的灰度值分布為fv(n),識別算法的核心是分別沿緯經紗線方向對檢測紋理灰度值累加求和:
編程直方算法對各類待印織物進行檢測試驗.結果表明織物圖像紋理的經紗方向和緯紗方向直方投影均能生成周期及幅度相對穩定的直方波形.如圖2所示。
依據此特點,用公式(3)、(4)進行直方投影重復累加運算能使隨機干擾趨于常值而且具有噪聲過濾功能。當緯、經紗線間隔和線徑一定時,沿緯、經紗線方向的直方投影等效于跟蹤檢測緯、經紗線線徑和間隔所形成的波峰與波谷,緯、經紗線會產生波峰,線孔間的灰度波動被累積放大.生成明顯的分界形成波谷.如圖3所示。
式q~F(m,xi),F(yj,n)分別為緯、經紗線方向灰度累加運算直方統計值:n為累加次數。
[1][2]下一頁>>
相關信息 







推薦企業
推薦企業
推薦企業