當代微電子技術、電子計算機等先進高新技術與紡織檢測技術的結合，使對原紗斷裂環的測試有了新的發展。如前所述，在實行了大容量原紗抗拉強力試驗后發現原紗中存在引起紗線斷裂的弱環，這些弱環是普通強力機所不容易測出的，它主要是由原紗上的細節造成。而原紗上的細節與斷裂點之間相關情況還是在高新技術測試儀應用后才得到比較準確的答案。
原紗上的細節與強力弱環（斷裂點）之間的關系的試驗是在一種新型原紗條干及抗強力聯合試驗儀上進行的（見圖1、圖2），試驗時首先進行原紗條干試驗，可精確測試出沿紗的長度方向每毫米長度紗樣的橫截面面積的變化，并將被測試的結果經過A/D轉換器輸往電子計算機加工并貯存，還可在熒屏上自動顯示出被測紗線斷面積變化的曲線及斷面形態（見圖3、圖4）。圖2所示當試驗紗線斷裂時，光線從斷裂處投射到傳感器上。
撿測條干的靈敏度可根據需求設定（如細節-40%，粗節+50%、棉結為+280等），被試完每毫米截面積變化的紗樣在專門的卷繞機上被卷繞成筒子備作抗拉強力試驗。將卷繞成筒子的紗樣自動引入到自動單紗強力機上進行抗拉強力試驗。這種測試儀配有A/D轉換器及高速攝影裝置，光學技術系統及自動顯示技術，不僅自動地顯示出紗樣橫截面面積的變化曲線，而且能精確的顯示出每段紗上強力弱環與細節的相關情況。
? 經過聯合試驗儀的測試得出如下情況：
原紗斷裂點發生在紗的最細部分（短細節部分）紗的橫截面最小部分纖維根數最少，承受張力最低：（見圖5）
長細節處會發生斷裂，長細節Ltp或較多的細節聯在一起，Xtp存在著斷裂弱環，Ltp越長在細節處Xtp絕對值越大，這部分細節的斷裂強力越低。（見圖7）
原紗細節與斷裂點之間相關程度試驗（表1）
表1表明有61.03%的斷裂點是發生在細節處。但有些細節并不發生斷裂，還表明斷裂點不一定都發生在細節處。即斷裂點與細節并不完全吻合。約有39%的斷
相關信息 
推薦企業 推薦企業
推薦企業
您所在的位置：
